觸摸屏 高低溫試驗(yàn)箱

產(chǎn)品描述：

高低溫試驗(yàn)箱（GDW系列）系列在箱體結(jié)構(gòu)、制冷系統(tǒng)、控制技術(shù)方面均做出了很大改進(jìn)，使其技術(shù)指標(biāo)更穩(wěn)定，運(yùn)行更可靠，操作、維護(hù)更方便。本系列產(chǎn)品廣泛用戶、航天、電子、儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設(shè)備等作高低溫例行試驗(yàn)、耐寒試驗(yàn)、低溫儲(chǔ)存，以便對試驗(yàn)中擬定環(huán)境條件下的性能、行為做出分及評價(jià)。

觸摸屏 高低溫試驗(yàn)箱

型號：THC-225PF

技術(shù)參數(shù)：

1.溫度范圍：-40℃～150℃
2.濕度范圍：20%～98%R.H
3.溫度均勻度：≤±2℃（空載時(shí)）
4.濕度均勻度：+2%-3%R.H
5.溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃（空載時(shí)）
6.濕度波動(dòng)度：±2%
7.溫度偏差：≤±2℃
8.濕度偏差：≤±2%
9.降溫速率：0.7～1.0℃/min
10.升溫速率：1.0～3.0℃/min
11.時(shí)間設(shè)定范圍：0～999小時(shí)
12.電源電壓：380V±10%
13.設(shè)備總功率：3KW～15KW

執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
GB11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分;試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A;低溫（IEC60068-2-1;2007）
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分;試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B;高溫（IEC60068-2-1;2007）
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分;試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N;溫度變化（IEC60068-2-14）
GJB150.3A-2009設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部：高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部：低溫試驗(yàn)